Schlomka, Jens-Peter

Untersuchung der strukturellen und magnetischen Eigenschaften von dünnen NiMnSb-Schichtsystemen

Reihe: Akademische Abhandlung zur Physik
ISBN: 978-3-89700-087-3
1999
Preis: 39.90 €
192 Seiten

Abstract

Magnetische Dünnschichtsysteme spielen im Bereich der Sensortechnik eine wichtige Rolle. Grundlage hierfür ist der sogenannte Riesenmagnetowiderstand, welcher in Mehrschichtsystemen aus ferromagnetischen und nicht-magnetischen Lagen auftreten kann. Im theoretischen Teil des vorliegenden Titels wird eine kurze Einführung in diese Thematik gegeben. Die nachfolgend verwendeten Untersuchungsmethoden der Reflexion von Röntgenstrahlung sowie von polarisierten Neutronen werden beschrieben.

Der exeperimentelle Teil der Untersuchung beschreibt die Präparation sehr dünner (<50 nm) Schichten der Halb-Heusler-Legierung Ni-Mn-Sb mittels Sputterdeposition sowie deren strukturelle und magnetische Charakterisierung. Den Schwerpunkt bildet die Charaketerisierung der Grenzflächen, insbesondere der Oberflächenrauhigkeit. Ein weiterer Teil der Arbeit befaßt sich mit der Untersuchung von Dreilagensystemen NiMnSb/V/NiMnSb, welche als Grundlage für Sensoranwendungen dienen können. Abhängig von der Dicke der Vandium-Zwischenschicht wird ein wechselndes magnetisches Verhalten gefunden. Im letzten Teil werden Multischichten mittels in-situ Röntgenreflexion untersucht.

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